Journal article
Authors list: Ablikim, M.; Achasov, M. N.; Adlarson, P.; Albrecht, M.; Aliberti, R.; Amoroso, A.; An, M. R.; An, Q.; Bai, X. H.; Bai, Y.; Bakina, O.; Ferroli, R. Baldini; Balossino, I.; Ban, Y.; Batozskaya, V.; Becker, D.; Begzsuren, K.; Berger, N.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Bloms, J.; Bortone, A.; Boyko, I.; Briere, R. A.; Brueggemann, A.; Cai, H.; Cai, X.; Calcaterra, A.; Cao, G. F.; Cao, N.; Cetin, S. A.; Chang, J. F.; Chang, W. L.; Chelkov, G.; Chen, C.; Chen, Chao; Chen, G.; Chen, H. S.; Chen, M. L.; Chen, S. J.; Chen, S. M.; Chen, T.; Chen, X. R.; Chen, X. T.; Chen, Y. B.; Chen, Z. J.; Cheng, W. S.; Choi, S. K.; Chu, X.; Cibinetto, G.; Cossio, F.; Cui, J. J.; Dai, H. L.; Dai, J. P.; Dbeyssi, A.; de Boer, R. E.; Dedovich, D.; Deng, Z. Y.; Denig, A.; Denysenko, I.; Destefanis, M.; De Mori, F.; Ding, Y.; Dong, J.; Dong, L. Y.; Dong, M. Y.; Dong, X.; Du, S. X.; Egorov, P.; Fan, Y. L.; Fang, J.; Fang, S. S.; Fang, W. X.; Fang, Y.; Farinelli, R.; Fava, L.; Feldbauer, F.; Felici, G.; Feng, C. Q.; Feng, J. H.; Fischer, K.; Fritsch, M.; Fritzsch, C.; Fu, C. D.; Gao, H.; Gao, Y. N.; Gao, Yang; Garbolino, S.; Garzia, I.; Ge, P. T.; Ge, Z. W.; Geng, C.; Gersabeck, E. M.; Gilman, A.; Goetzen, K.; Gong, L.; Gong, W. X.; Gradl, W.; Greco, M.; Gu, L. M.; Gu, M. H.; Gu, Y. T.; Guan, C. Y.; Guo, A. Q.; Guo, L. B.; Guo, R. P.; Guo, Y. P.; Guskov, A.; Han, T. T.; Han, W. Y.; Hao, X. Q.; Harris, F. A.; He, K. K.; He, K. L.; Heinsius, F. H.; Heinz, C. H.; Heng, Y. K.; Herold, C.; Himmelreich, M.; Hou, G. Y.; Hou, Y. R.; Hou, Z. L.; Hu, H. M.; Hu, J. F.; Hu, T.; Hu, Y.; Huang, G. S.; Huang, K. X.; Huang, L. Q.; Huang, X. T.; Huang, Y. P.; Huang, Z.; Hussain, T.; Husken, N.; Imoehl, W.; Irshad, M.; Jackson, J.; Jaeger, S.; Janchiv, S.; Jang, E.; Jeong, J. H.; Ji, Q.; Ji, Q. P.; Ji, X. B.; Ji, X. L.; Ji, Y. Y.; Jia, Z. K.; Jiang, H. B.; Jiang, S. S.; Jiang, X. S.; Jiang, Y.; Jiao, J. B.; Jiao, Z.; Jin, S.; Jin, Y.; Jing, M. Q.; Johansson, T.; Kalantar-Nayestanaki, N.; Kang, X. S.; Kappert, R.; Kavatsyuk, M.; Ke, B. C.; Keshk, I. K.; Khoukaz, A.; Kiuchi, R.; Kliemt, R.; Koch, L.; Kolcu, O. B.; Kopf, B.; Kuemmel, M.; Kuessner, M.; Kupsc, A.; Kuhn, W.; Lane, J. J.; Lange, J. S.; Larin, P.; Lavania, A.; Lavezzi, L.; Lei, Z. H.; Leithoff, H.; Lellmann, M.; Lenz, T.; Li, C.; Li, C.; Li, C. H.; Li, Cheng; Li, D. M.; Li, F.; Li, G.; Li, H.; Li, H.; Li, H. B.; Li, H. J.; Li, H. N.; Li, J. Q.; Li, J. S.; Li, J. W.; Li, Ke; Li, L. J.; Li, L. K.; Li, Lei; Li, M. H.; Li, P. R.; Li, S. X.; Li, S. Y.; Li, T.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. L.; Li, Xiaoyu; Li, Y. G.; Li, Z. X.; Liang, H.; Liang, H.; Liang, H.; Liang, Y. F.; Liang, Y. T.; Liao, G. R.; Liao, L. Z.; Libby, J.; Limphirat, A.; Lin, C. X.; Lin, D. X.; Lin, T.; Liu, B. J.; Liu, C. X.; Liu, D.; Liu, F. H.; Liu, Fang; Liu, Feng; Liu, G. M.; Liu, H.; Liu, H. B.; Liu, H. M.; Liu, Huanhuan; Liu, Huihui; Liu, J. B.; Liu, J. L.; Liu, J. Y.; Liu, K.; Liu, K. Y.; Liu, Ke; Liu, L.; Liu, Lu; Liu, M. H.; Liu, P. L.; Liu, Q.; Liu, S. B.; Liu, T.; Liu, W. K.; Liu, W. M.; Liu, X.; Liu, Y.; Liu, Y. B.; Liu, Z. A.; Liu, Z. Q.; Lou, X. C.; Lu, F. X.; Lu, H. J.; Lu, J. G.; Lu, X. L.; Lu, Y.; Lu, Y. P.; Lu, Z. H.; Luo, C. L.; Luo, M. X.; Luo, T.; Luo, X. L.; Lyu, X. R.; Lyu, Y. F.; Ma, F. C.; Ma, H. L.; Ma, L. L.; Ma, M. M.; Ma, Q. M.; Ma, R. Q.; Ma, R. T.; Ma, X. Y.; Ma, Y.; Maas, F. E.; Maggiora, M.; Maldaner, S.; Malde, S.; Malik, Q. A.; Mangoni, A.; Mao, Y. J.; Mao, Z. P.; Marcello, S.; Meng, Z. X.; Mezzadri, G.; Miao, H.; Min, T. J.; Mitchell, R. E.; Mo, X. H.; Muchnoi, N. Yu.; Nefedov, Y.; Nerling, F.; Nikolaev, I. B.; Ning, Z.; Nisar, S.; Niu, Y.; Olsen, S. L.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Pan, X.; Pan, Y.; Pathak, A.; Pelizaeus, M.; Peng, H. P.; Peters, K.; Ping, J. L.; Ping, R. G.; Plura, S.; Pogodin, S.; Prasad, V.; Qi, F. Z.; Qi, H.; Qi, H. R.; Qi, M.; Qi, T. Y.; Qian, S.; Qian, W. B.; Qian, Z.; Qiao, C. F.; Qin, J. J.; Qin, L. Q.; Qin, X. P.; Qin, X. S.; Q
Publication year: 2023
Journal: Physical Review D
Volume number: 107
Issue number: 3
ISSN: 2470-0010
eISSN: 2470-0029
DOI Link: https://doi.org/10.1103/PhysRevD.107.032007
Publisher: American Physical Society
Abstract:
We report a measurement of the cross section for the process e(+)e(-) -> pi(+)pi(-)J/psi around the X(3872) mass in search for the direct formation of e(+)e(-) -> X(3872) through the two-photon fusion process. No enhancement of the cross section is observed at the X(3872) peak and an upper limit on the product of electronic width and branching fraction of X(3872) -> pi(+)pi(-) J/psi is determined to be Gamma(ee) x B(X(3872) -> pi(+)pi(-) J/psi) <7.5 x 10(-3) eV at 90% confidence level under an assumption of total width of 1.19 +/- 0.21 MeV. This is an improvement of a factor of about 17 compared to the previous limit. Furthermore, using the latest result of B(X(3872) -> pi(+)pi(-) J/psi), an upper limit on the electronic width Fee of X(3872) is obtained to be <0.32 eV at the 90% confidence level.
Citation Styles
Harvard Citation style: Ablikim, M., Achasov, M., Adlarson, P., Albrecht, M., Aliberti, R., Amoroso, A., et al. (2023) Measurement of the e+ e- → π+π- J/ψ cross section in the vicinity of 3.872 GeV, Physical Review D (particles, fields, gravitation, and cosmology), 107(3), Article 032007. https://doi.org/10.1103/PhysRevD.107.032007
APA Citation style: Ablikim, M., Achasov, M., Adlarson, P., Albrecht, M., Aliberti, R., Amoroso, A., An, M., An, Q., Bai, X., Bai, Y., Bakina, O., Ferroli, R., Balossino, I., Ban, Y., Batozskaya, V., Becker, D., Begzsuren, K., Berger, N., Bertani, M., ...Q (2023). Measurement of the e+ e- → π+π- J/ψ cross section in the vicinity of 3.872 GeV. Physical Review D (particles, fields, gravitation, and cosmology). 107(3), Article 032007. https://doi.org/10.1103/PhysRevD.107.032007
Keywords
TOF; X(3872) PRODUCTION
