Journal article
Authors list: Ablikim, M.; Achasov, M. N.; Adlarson, P.; Ahmed, S.; Albrecht, M.; Aliberti, R.; Amoroso, A.; An, M. R.; An, Q.; Bai, X. H.; Bai, Y.; Bakina, O.; Ferroli, R. Baldini; Balossino, I; Ban, Y.; Begzsuren, K.; Berger, N.; Bertani, M.; Bettoni, D.; Bianchi, F.; Bloms, J.; Bortone, A.; Boyko, I; Briere, R. A.; Cai, H.; Cai, X.; Calcaterra, A.; Cao, G. F.; Cao, N.; Cetin, S. A.; Chang, J. F.; Chang, W. L.; Chelkov, G.; Chen, D. Y.; Chen, G.; Chen, H. S.; Chen, M. L.; Chen, S. J.; Chen, X. R.; Chen, Y. B.; Chen, Z. J.; Cheng, W. S.; Cibinetto, G.; Cossio, F.; Cui, X. F.; Dai, H. L.; Dai, X. C.; Dbeyssi, A.; de Boer, R. E.; Dedovich, D.; Deng, Z. Y.; Denig, A.; Denysenko, I; Destefanis, M.; De Mori, F.; Ding, Y.; Dong, C.; Dong, J.; Dong, L. Y.; Dong, M. Y.; Dong, X.; Du, S. X.; Fan, Y. L.; Fang, J.; Fang, S. S.; Fang, Y.; Farinelli, R.; Fava, L.; Feldbauer, F.; Felici, G.; Feng, C. Q.; Feng, J. H.; Fritsch, M.; Fu, C. D.; Gao, Y.; Gao, Y. G.; Garzia, I; Ge, P. T.; Geng, C.; Gersabeck, E. M.; Gilman, A.; Goetzen, K.; Gong, L.; Gong, W. X.; Gradl, W.; Greco, M.; Gu, L. M.; Gu, M. H.; Guan, C. Y.; Guo, A. Q.; Guo, L. B.; Guo, R. P.; Guo, Y. P.; Guskov, A.; Han, T. T.; Han, W. Y.; Hao, X. Q.; Harris, F. A.; He, K. L.; Heinsius, F. H.; Heinz, C. H.; Held, T.; Heng, Y. K.; Herold, C.; Himmelreich, M.; Holtmann, T.; Hou, G. Y.; Hou, Y. R.; Hou, Z. L.; Hu, H. M.; Hu, J. F.; Hu, T.; Hu, Y.; Huang, G. S.; Huang, L. Q.; Huang, X. T.; Huang, Y. P.; Huang, Z.; Hussain, T.; Huesken, N.; Andersson, W. Ikegami; Imoehl, W.; Irshad, M.; Jaeger, S.; Janchiv, S.; Ji, Q.; Ji, Q. P.; Ji, X. B.; Ji, X. L.; Ji, Y. Y.; Jiang, H. B.; Jiang, X. S.; Jiao, J. B.; Jiao, Z.; Jin, S.; Jin, Y.; Jing, M. Q.; Johansson, T.; Kalantar-Nayestanaki, N.; Kang, X. S.; Kappert, R.; Kavatsyuk, M.; Ke, B. C.; Keshk, I. K.; Khoukaz, A.; Kiese, P.; Kiuchi, R.; Kliemt, R.; Koch, L.; Kolcu, O. B.; Kopf, B.; Kuemmel, M.; Kuessner, M.; Kupsc, A.; Kurth, M. G.; Kuhn, W.; Lane, J. J.; Lange, J. S.; Larin, P.; Lavania, A.; Lavezzi, L.; Lei, Z. H.; Leithoff, H.; Lellmann, M.; Lenz, T.; Li, C.; Li, C. H.; Li, Cheng; Li, D. M.; Li, F.; Li, G.; Li, H.; Li, H. B.; Li, H. J.; Li, J. L.; Li, J. Q.; Li, J. S.; Li, Ke; Li, L. K.; Li, Lei; Li, P. R.; Li, S. Y.; Li, W. D.; Li, W. G.; Li, X. H.; Li, X. L.; Li, Xiaoyu; Li, Z. Y.; Liang, H.; Liang, Y. F.; Liang, Y. T.; Liao, G. R.; Liao, L. Z.; Libby, J.; Lin, C. X.; Lin, T.; Liu, B. J.; Liu, C. X.; Liu, D.; Liu, F. H.; Liu, Fang; Liu, Feng; Liu, H. M.; Liu, Huanhuan; Liu, Huihui; Liu, J. B.; Liu, J. L.; Liu, J. Y.; Liu, K.; Liu, K. Y.; Liu, L.; Liu, M. H.; Liu, P. L.; Liu, Q.; Liu, S. B.; Liu, Shuai; Liu, T.; Liu, W. M.; Liu, X.; Liu, Y.; Liu, Y. B.; Liu, Z. A.; Liu, Z. Q.; Lou, X. C.; Lu, F. X.; Lu, H. J.; Lu, J. D.; Lu, J. G.; Lu, X. L.; Lu, Y.; Lu, Y. P.; Luo, C. L.; Luo, M. X.; Luo, P. W.; Luo, T.; Luo, X. L.; Lyu, X. R.; Ma, F. C.; Ma, H. L.; Ma, L. L.; Ma, M. M.; Ma, Q. M.; Ma, R. Q.; Ma, R. T.; Ma, X. X.; Ma, X. Y.; Maas, F. E.; Maggiora, M.; Maldaner, S.; Malde, S.; Malik, Q. A.; Mangoni, A.; Mao, Y. J.; Mao, Z. P.; Marcello, S.; Meng, Z. X.; Messchendorp, J. G.; Mezzadri, G.; Min, T. J.; Mitchell, R. E.; Mo, X. H.; Muchnoi, N. Yu; Muramatsu, H.; Nakhoul, S.; Nefedov, Y.; Nerling, F.; Nikolaev, I. B.; Ning, Z.; Nisar, S.; Ouyang, Q.; Pacetti, S.; Pan, X.; Pan, Y.; Pathak, A.; Patteri, P.; Pelizaeus, M.; Peng, H. P.; Peters, K.; Pettersson, J.; Ping, J. L.; Ping, R. G.; Pogodin, S.; Poling, R.; Prasad, V; Qi, H.; Qi, H. R.; Qi, K. H.; Qi, M.; Qi, T. Y.; Qian, S.; Qian, W. B.; Qian, Z.; Qiao, C. F.; Qin, L. Q.; Qin, X. P.; Qin, X. S.; Qin, Z. H.; Qiu, J. F.; Qu, S. Q.; Rashid, K. H.; Ravindran, K.; Redmer, C. F.; Rivetti, A.; Rodin, V; Rolo, M.; Rong, G.; Rosner, Ch; Rump, M.; Sang, H. S.; Sarantsev, A.; Schelhaas, Y.; Schnier, C.; Schoenning, K.; Scodeggio, M.; Shan, D. C.; Shan, W.; Shan, X. Y.; Shangguan, J. F.; Shao, M.; Shen, C. P.; Shen, H. F.; Shen, P. X.; Shen, X. Y.; Shi, H. C.; Shi, R
Publication year: 2022
Journal: Journal of High Energy Physics
Issue number: 1
ISSN: 1029-8479
DOI Link: https://doi.org/10.1007/JHEP01(2022)052
Publisher: Springer
Abstract:
Using a data set corresponding to an integrated luminosity of 6.32fb(-1) recorded by the BESIII detector at center-of-mass energies between 4.178 and 4.226 GeV, an amplitude analysis of the decay D-s(+) -> pi(+)pi(0)pi(0 ) is performed, and the relative fractions and phases of different intermediate processes are determined. The absolute branching fraction of the decay D-s(+) -> pi(+)pi(0)pi(0)is measured to be (0.50 +/- 0.04(stat) 0.02(syst) )%. The absolute branching fraction of the intermediate process D-s(+) -> f(0)(980)pi(+), f(0)(980) ->pi(0)pi(0 ), is determined to be (0.28 +/- 0.04(stat) +/- 0.04(syst))%.
Citation Styles
Harvard Citation style: Ablikim, M., Achasov, M., Adlarson, P., Ahmed, S., Albrecht, M., Aliberti, R., et al. (2022) Amplitude analysis and branching fraction measurement of the decay Ds+ → π+π0π0, Journal of High Energy Physics(1), Article 052. https://doi.org/10.1007/JHEP01(2022)052
APA Citation style: Ablikim, M., Achasov, M., Adlarson, P., Ahmed, S., Albrecht, M., Aliberti, R., Amoroso, A., An, M., An, Q., Bai, X., Bai, Y., Bakina, O., Ferroli, R., Balossino, I., Ban, Y., Begzsuren, K., Berger, N., Bertani, M., Bettoni, D., ...Shi, R. (2022). Amplitude analysis and branching fraction measurement of the decay Ds+ → π+π0π0. Journal of High Energy Physics(1), Article 052. https://doi.org/10.1007/JHEP01(2022)052
Keywords
Branching fraction; Charm Physics; e(+)-e(-) Experiments; KK
