Journalartikel
Autorenliste: Gruehn, R; Mertin, W
Jahr der Veröffentlichung: 1980
Seiten: 505-520
Zeitschrift: Angewandte Chemie International Edition in English
Bandnummer: 19
Heftnummer: 7
ISSN: 1433-7851
DOI Link: https://doi.org/10.1002/anie.198005051
Verlag: Wiley-VCH
Zitierstile
Harvard-Zitierstil: Gruehn, R. and Mertin, W. (1980) High-Resolution Transmission Electron Microscopy Re-examined as a Tool in Solid State Chemistry, Angewandte Chemie International Edition in English, 19(7), pp. 505-520. https://doi.org/10.1002/anie.198005051
APA-Zitierstil: Gruehn, R., & Mertin, W. (1980). High-Resolution Transmission Electron Microscopy Re-examined as a Tool in Solid State Chemistry. Angewandte Chemie International Edition in English. 19(7), 505-520. https://doi.org/10.1002/anie.198005051
