Meeting Abstract

ELECTRON-MICROSCOPY OF DEFECTS WITH CLOSE BOUNDARIES IN BLOCK STRUCTURES OF THE SYSTEM NB205-WO3


AutorenlisteHEURUNG, G; MERTIN, W; GRUEHN, R

Jahr der Veröffentlichung1979

Seiten150-151

ZeitschriftZeitschrift für Kristallographie

Bandnummer149

Heftnummer1-2

ISSN0044-2968

VerlagOldenbourg Verlag



Zitierstile

Harvard-ZitierstilHEURUNG, G., MERTIN, W. and GRUEHN, R. (1979) ELECTRON-MICROSCOPY OF DEFECTS WITH CLOSE BOUNDARIES IN BLOCK STRUCTURES OF THE SYSTEM NB205-WO3, Zeitschrift für Kristallographie, 149(1-2), pp. 150-151

APA-ZitierstilHEURUNG, G., MERTIN, W., & GRUEHN, R. (1979). ELECTRON-MICROSCOPY OF DEFECTS WITH CLOSE BOUNDARIES IN BLOCK STRUCTURES OF THE SYSTEM NB205-WO3. Zeitschrift für Kristallographie. 149(1-2), 150-151.



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