Journalartikel
Autorenliste: Ahmed, S.; Pokle, A.; Belz, J.; Bianchini, M.; Beyer, A.; Janek, J.; Volz, K.
Jahr der Veröffentlichung: 2021
Seiten: 1446-1449
Zeitschrift: Microscopy and Microanalysis
Bandnummer: 27
Heftnummer: S1
DOI Link: https://doi.org/10.1017/S1431927621005353
Verlag: Oxford University Press
Zitierstile
Harvard-Zitierstil: Ahmed, S., Pokle, A., Belz, J., Bianchini, M., Beyer, A., Janek, J., et al. (2021) A robust technique to image all elements in LiNiO2 cathode active material by 4D-STEM, Microscopy and Microanalysis, 27(S1), pp. 1446-1449. https://doi.org/10.1017/S1431927621005353
APA-Zitierstil: Ahmed, S., Pokle, A., Belz, J., Bianchini, M., Beyer, A., Janek, J., & Volz, K. (2021). A robust technique to image all elements in LiNiO2 cathode active material by 4D-STEM. Microscopy and Microanalysis. 27(S1), 1446-1449. https://doi.org/10.1017/S1431927621005353
